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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 专题：上海微系统与信息技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Structural and electrical properties of metal-ferroelectric-insulator-semiconductor transistors using a Pt/Bi3.25Nd0.75Ti3O12/Y2O3/Si structure 期刊论文 SOLID-STATE ELECTRONICS, 2007, 卷号: 51, 期号: 3, 页码: 371-375 Tang, MH; Zhou, YC; Zheng, XJ; Yan, Z; Cheng, CP; Ye, Z; Hu, ZS 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2012/03/24 THIN-FILMS  MEMORY WINDOW  BUFFER LAYERS  POLARIZATION  DEPOSITION  SI  RETENTION   Raman spectra and XPS studies of phase changes in Ge2Sb2Te5 films 期刊论文 CHINESE PHYSICS, 2004, 卷号: 13, 期号: 11, 页码: 1947-1950 Liu, B; Song, ZT; Zhang, T; Feng, SL; Chen, BM 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2012/03/24 TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY  CRYSTALLIZATION BEHAVIOR  THIN-FILMS  MEMORY  SPECTROSCOPY  TRANSITIONS  MEDIA  SB