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浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 专题：化学研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Luminescent cyclometallated platinum(II) complexes: highly promising EGFR/DNA probes and dual-targeting anticancer agents 期刊论文 INORGANIC CHEMISTRY FRONTIERS, 2018, 卷号: 5, 期号: 2, 页码: 413-424 作者:  Zhang, Yang;  Luo, Qun;  Zheng, Wei;  Wang, Zhaoying;  Lin, Yu 收藏  |  浏览/下载：78/0  |  提交时间：2018/04/10 Mass spectrometric investigation of electrical double layer at electrode-electrolyte interfaces 期刊论文 ABSTRACTS OF PAPERS OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY, 2017, 卷号: 254 作者:  Zhang, Yanyan;  Zhou, Yufan;  Wang, Zhaoying;  Wang, Chongmin;  Liu, Bingwen 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2019/04/09 Correlated mass spectrometry and confocal microscopy imaging verifies the dual-targeting action of an organoruthenium anticancer complex 期刊论文 CHEMICAL COMMUNICATIONS, 2017, 卷号: 53, 期号: 29, 页码: 4136-4139 作者:  Liu, Suyan;  Zheng, Wei;  Wu, Kui;  Lin, Yu;  Jia, Feifei 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2018/04/19 In Situ Mass Spectrometric Monitoring of the Dynamic Electrochemical Process at the Electrode-Electrolyte Interface: a SIMS Approach 期刊论文 ANALYTICAL CHEMISTRY, 2017, 卷号: 89, 期号: 1, 页码: 960-965 作者:  Wang, Zhaoying;  Zhang, Yanyan;  Liu, Bingwen;  Wu, Kui;  Thevuthasan, Suntharampillai 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2017/02/23 Nanoscale imaging of Li and B in nuclear waste glass, a comparison of ToF-SIMS, NanoSIMS, and APT 期刊论文 SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2016, 卷号: 48, 期号: 13, 页码: 1392-1401 作者:  Wang, Zhaoying;  Liu, Jia;  Zhou, Yufan;  Neeway, James J.;  Schreiber, Daniel K. 收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2017/01/18 ToF-SIMS  NanoSIMS  APT  nanoscale imaging  lithium  boron  nuclear waste glass   Argon Cluster Sputtering Source for ToF-SIMS Depth Profiling of Insulating Materials: High Sputter Rate and Accurate Interfacial Information 期刊论文 JOURNAL OF THE AMERICAN SOCIETY FOR MASS SPECTROMETRY, 2015, 卷号: 26, 期号: 8, 页码: 1283-1290 作者:  Wang, Zhaoying;  Liu, Bingwen;  Zhao, Evan W.;  Jin, Ke;  Du, Yingge 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2015/10/27 ToF-SIMS  Argon cluster  SON68 glass  Perovskite oxide thin films  Sputtering rate  Charging alleviation   ToF-SIMS depth profiling of insulating samples, interlaced mode or non-interlaced mode? 期刊论文 SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2014, 卷号: 46, 页码: 257-260 作者:  Wang, Zhaoying;  Jin, Ke;  Zhang, Yanwen;  Wang, Fuyi;  Zhu, Zihua 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/04/09 Tof-sims  Dual-beam Depth Profiling  Interlaced Mode  Non-interlaced Mode  Insulator   Low-temperature lithium diffusion in simulated high-level boroaluminosilicate nuclear waste glasses 期刊论文 JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS, DEC , 卷号: 405, 页码: 83-90 作者:  Neeway, James J.;  Kerisit, Sebastien;  Gin, Stephane;  Wang, Zhaoying;  Zhu, Zihua 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2018/04/10