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Process variation dependence of total ionizing dose effects in bulk nFinFETs 会议论文
作者:  Li B(李博);  Huang YB(黄云波);  L.Yang;  Zhang QZ(张青竹);  Zheng ZS(郑中山)
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FinFETs on Insulator with Silicided Source/Drain 会议论文
作者:  Zhu HL(朱慧珑);  Zhao C(赵超);  Yin HX(殷华湘);  Zhong HC(钟汇才);  Zhang QZ(张青竹)
收藏  |  浏览/下载:14/0  |  提交时间:2018/07/26
Anomalous Total Dose Response and Room-Temperature Annealing Behavior in Bulk nFinFETs 会议论文
作者:  Zheng ZS(郑中山);  Huang YB(黄云波);  Yang L(杨玲);  Han ZS(韩郑生);  Luo JJ(罗家俊)
收藏  |  浏览/下载:13/0  |  提交时间:2018/07/20


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