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科研机构
微电子研究所 [3]
内容类型
会议论文 [3]
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2018 [1]
2017 [2]
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内容类型:会议论文
专题:微电子研究所
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Process variation dependence of total ionizing dose effects in bulk nFinFETs
会议论文
作者:
Li B(李博)
;
Huang YB(黄云波)
;
L.Yang
;
Zhang QZ(张青竹)
;
Zheng ZS(郑中山)
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浏览/下载:46/0
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提交时间:2019/05/13
FinFETs on Insulator with Silicided Source/Drain
会议论文
作者:
Zhu HL(朱慧珑)
;
Zhao C(赵超)
;
Yin HX(殷华湘)
;
Zhong HC(钟汇才)
;
Zhang QZ(张青竹)
收藏
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2018/07/26
Anomalous Total Dose Response and Room-Temperature Annealing Behavior in Bulk nFinFETs
会议论文
作者:
Zheng ZS(郑中山)
;
Huang YB(黄云波)
;
Yang L(杨玲)
;
Han ZS(韩郑生)
;
Luo JJ(罗家俊)
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2018/07/20
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