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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 专题：湖南大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Investigation of Total-Ionizing Dose Effects on the Two-Dimensional Transition Metal Dichalcogenide Field-Effect Transistors 期刊论文 IEEE Access, 2019, 卷号: Vol.7, 页码: 79989-79996 作者:  Shuyun Zheng;  Yun Zeng;  Zhuojun Chen 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/13 Field effect transistors  Semiconductor device modeling  Degradation  Electric potential  Logic gates  Molybdenum  Transition metal dichalcogenide (TMD)  field-effect transistor (FET)  total ionizing dose (TID)  surface potential  compact model   Investigation of Total-Ionizing Dose Effects on the Two-Dimensional Transition Metal Dichalcogenide Field-Effect Transistors 期刊论文 IEEE ACCESS, 2019, 卷号: Vol.7, 页码: 79989-79996 作者:  Zheng, SY;  Zeng, Y;  Chen, ZJ 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/17 Transition metal dichalcogenide (TMD)  field-effect transistor (FET)  total ionizing dose (TID)  surface potential  compact model   Study of Total-Ionizing-Dose Effects on a Single-Event-Hardened Phase-Locked Loop 期刊论文 IEEE Transactions on Nuclear Science, 2018, 卷号: Vol.65 No.4, 页码: 997-1004 作者:  Zhuojun Chen;  Ding Ding;  Yemin Dong;  Yi Shan;  Shuxing Zhou 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2019/12/26 Phase  locked  loops  Radiation  effects  Transistors  MOS  devices  Degradation  Phase  noise  Voltage-controlled  oscillators  Total-ionizing-dose  phase-locked  loop  phase  noise  reference  spur