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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 专题：上海微系统与信息技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 退火温度对Ge-SiO_2薄膜结构的影响 期刊论文 功能材料, 2002, 期号: 03 汤乃云; 叶春暖; 吴雪梅; 诸葛兰剑; 俞跃辉; 姚伟国 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2012/03/29 K1 薄膜  溅射  退火温度   谐波分析测定瞬时腐蚀速度的研究 Ⅱ.富里叶级数展开法 期刊论文 中国腐蚀与防护学报, 1984, 期号: 03 徐乃欣; J.L.Dawson; G.E.Thompson; G.C.Wood 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2012/03/29