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数字校对技术在流水线ADC中的应用 期刊论文
电子器件, 2005, 卷号: 28, 期号: 4, 页码: 5,878-881,885
作者:  董庆祥
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氧等离子气氛中NMOS器件的性能退化 期刊论文
微电子学与计算机, 2005, 卷号: 22, 期号: 8, 页码: 4,1-4
作者:  韩郑生;  海潮和;  李俊峰;  钟兴华;  杨建军
收藏  |  浏览/下载:9/0  |  提交时间:2010/05/26


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