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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 专题：光电技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Photocarrier Radiometry Investigation of Light-Induced Degradation of Boron-Doped Czochralski-Grown Silicon Without Surface Passivation 期刊论文 INTERNATIONAL JOURNAL OF THERMOPHYSICS, 2016, 卷号: 37, 期号: 4 作者:  Wang, Qian;  Li, Bincheng 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2016/06/27 B-O defect  Light-induced degradation  Photocarrier radiometry  Silicon  Surface state   Influence of Cr Adhesion Layer on Detection of Amyloid-Derived Diffusible Ligands Based on Localized Surface Plasmon Resonance 期刊论文 PLASMONICS, 2009, 卷号: 4, 期号: 2, 页码: 135-140 作者:  Zhu, Shaoli;  Du, ChunLei;  Fu, Yongqi;  Deng, Qiling;  Shi, Lifang 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2015/09/21 LSPR  ADDLs  Anti-ADDL  Passivation  Cr adhesion layer   Influence of Cr Adhesion Layer on Detection of Amyloid-Derived Diffusible Ligands Based on Localized Surface Plasmon Resonance 期刊论文 PLASMONICS, 2009, 卷号: 4, 期号: 2, 页码: 135-140 作者:  Zhu SL;  Du CL;  Fu YQ;  et al. 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2016/11/03