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浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 内容类型：专利     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Chip-scale lidar with a single 2d MEMS scanner 专利 专利号: US20190018113A1, 申请日期: 2019-01-17, 公开日期: 2019-01-17 作者:  SAYYAH, KEYVAN;  EFIMOV, OLEG;  PATTERSON, PAMELA R.;  SARKISSIAN, RAYMOND;  SCHAFFNER, JAMES H. 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/12/31 一种基于超声AFM的纳米薄膜厚度检测装置及其方法 专利 专利类型: 发明, 专利号: CN107192857A, 申请日期: 2017-09-22, 作者:  刘连庆;  李广勇;  于鹏;  施佳林 收藏  |  浏览/下载：39/0  |  提交时间：2017/10/19 基于快速路网建模的多尺度时空热点路径探测方法 专利 专利类型: 发明授权, 专利号: CN105258704B, 申请日期: 2016-01-20, 公开日期: 2017-12-05 作者:  库涛;  吴俊伟;  吕赐兴;  朱云龙;  张丁一 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2017/12/29 基于快速路网建模的多尺度时空热点路径探测方法 专利 专利类型: 发明, 专利号: CN105258704A, 申请日期: 2016-01-20, 作者:  吕赐兴;  朱云龙;  张丁一;  库涛;  陈瀚宁 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2016/03/30 Automatic calibration method for multi-scale air-ground parameters of small aircraft based on monocular vision, involves connecting measurement points to obtain functional curve of space-to-ground multi-parameter relation. 专利 申请日期: 2016-01-01, 公开日期: 2016-03-16 作者:  FEI Y YAN F ZHUANG Y WANG Q 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/09 Method of photo-reflectance characterization of strain and active dopant in semiconductor structures 专利 专利号: EP1952122A2, 申请日期: 2008-08-06, 公开日期: 2008-08-06 作者:  CHISM, WILLIAM, W 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2019/12/31 Quantum well, beam deflecting surface emitting lasers 专利 专利号: US5159603, 申请日期: 1992-10-27, 公开日期: 1992-10-27 作者:  KIM, JAE H. 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2019/12/23 Package structure and method for making the same 专利 专利号: US20040087043A1, 公开日期: 2004-05-06 作者:  LEE, CHENKUO;  YI-MOU, HUANG 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/26