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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 学科主题：701.1 Electricity: Basic Concepts and Phenomena - 712.1 Semiconducting Materials     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 用Van der Pauw法研究硼重掺杂金刚石薄膜电学性质 期刊论文 半导体学报/Pan Tao Ti Hsueh Pao/Chinese Journal of Semiconductors, 1997, 卷号: 18, 期号: 8, 页码: 598-602 作者:  陈光华;  张兴旺;  季亚英 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/04/27 金刚石薄膜:9110  霍耳迁移率:1691  电阻率:1669  激活能:1483  重掺杂:1469  金刚石膜:1375  自由载流子:1260  温度升高:1152  载流子浓度:1050  空穴迁移率:1036  Polycrystalline diamond films  Van der Pauw method