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硅后时延通路故障的指令级测试方法研究 学位论文
北京: 中国科学院研究生院, 2011
作者:  Xiaobing;  Shi
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三维芯片的测试技术研究进展 期刊论文
信息技术快报, 2010, 卷号: 8, 期号: 2, 页码: 29
作者:  韩银和;  张磊;  李晓维
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