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科研机构
上海光学精密机械研究... [3]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
2008 [1]
2006 [1]
2005 [1]
学科主题
光学薄膜 [3]
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学科主题:光学薄膜
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1064nm与532nm激光对电子束蒸发制备的HfO2/SiO2高反膜损伤比较
期刊论文
强激光与粒子束, 2008, 卷号: 20, 期号: 9, 页码: 1457, 1460
李大伟
;
陶春先
;
李笑
;
赵元安
;
邵建达
收藏
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浏览/下载:944/182
  |  
提交时间:2009/09/22
光学薄膜
激光损伤
电子束蒸发
电子缺陷
1064 nm lasers
Damage behaviors
Damage thresholds
Electron beam evaporation
Electron beam evaporations
Electronic defects
Laser induced
Laser induced damage
Optical thin films
负离子元素杂质破坏模型
期刊论文
物理学报, 2006, 卷号: 55, 期号: 4, 页码: 1987, 1990
吴师岗
;
邵建达
;
范正修
收藏
  |  
浏览/下载:438/67
  |  
提交时间:2009/09/22
负离子元素杂质
缺陷
吸收
损伤阈值
negative-ion element impurities
defects
absorption
Damage on HfO2/SiO2 high-reflecting coatings under single and multiple Nd:YAG laser pulse irradiation
期刊论文
chin. opt. lett., 2005, 卷号: 3, 期号: 3, 页码: 179, 180
Weidong Gao
;
Tao Wang
;
Yuanan Zhao
;
Jianda Shao
收藏
  |  
浏览/下载:511/99
  |  
提交时间:2009/09/22
thin films
310.6870
thin films
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