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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：1982     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 X射线荧光光谱法非破坏测定二元合金薄膜的成分 期刊论文 物理, 1982, 期号: 1, 页码: 47-49 程建邦; 郑德娟; 欧通桃; 郝贡章 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2013/09/23