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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2004     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Fexsi grown with mass-analyzed low-energy dual ion beam deposition 期刊论文 Journal of crystal growth, 2004, 卷号: 263, 期号: 1-4, 页码: 143-147 作者:  Liu, LF;  Chen, NF;  Zhang, FQ;  Chen, CL;  Li, YL 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2019/05/12 Auger electron spectroscopy  X-ray diffraction  Ion beam deposition  Semiconducting silicon   FexSi grown with mass-analyzed low-energy dual ion beam deposition 期刊论文 Journal of Crystal Growth, 2004, 卷号: 263, 期号: 1-4, 页码: 143-147 作者:  Liu LF;  Chen NF(陈诺夫);  Zhang FQ(张富强);  Chen CL;  Li YL 收藏  |  浏览/下载：803/26  |  提交时间：2009/08/03 Auger Electron Spectroscopy  X-Ray Diffraction  Ion Beam Deposition  Semiconducting Silicon  Doped Si-Mn  Spin-Photonics  Thin-Films  Silicon  Gas   FexSi grown with mass-analyzed low-energy dual ion beam deposition 期刊论文 journal of crystal growth, 2004, 卷号: 263, 期号: 1-4, 页码: 143-147 Liu LF; Chen NF; Zhang FQ; Chen CL; Li YL; Yang SY; Liu Z 收藏  |  浏览/下载：80/34  |  提交时间：2010/03/09 Auger electron spectroscopy