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浏览/检索结果: 共9条，第1-9条 帮助 限定条件 发表日期：2003    内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Quantitative descriptions of periodic layer formation during solid state reactions 其他 2003-01-01 Chen, YC; Zhang, YG; Chen, CQ 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/12 pattern formation  periodic layer formation  theory and modeling  diffusion-induced stresses  interface control  DIFFUSION   共沉淀法制备ZrO_2-Al_2O_3纳米复合氧化物的物相表征 其他 2003-01-01 梁健; 黄惠忠; 谢有畅 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/10/24 ZrO_2  Al_2O_3  ZrO2  Al2O3  nano-composite oxide  mutual monolayer dispersion  纳米复合氧化物  相互单层分散   Electrical properties of Al2O3 gate dielectrics 其他 2003-01-01 Lin, CH; Kang, JF; Han, DD; Tian, DY; Wang, W; Zhang, JH; Liu, M; Liu, XY; Han, RQ 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/12 Al2O3 gate dielectric  electrical properties  carrier transport mechanism  interfacial traps   Traffic data collection and management based on spatial information technology 其他 2003-01-01 Chen, XW; Ma, L; Zhang, FZ; Yang, DK 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/13 traffic information  spatial information  technology  remote sensing  geographic information system  satellite navigation system   Computer microvision and its application for mems testing 其他 2003-01-01 Feng, YL; Li, DC; Jin, CY; Hao, YL; Jin, SJ 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/13 computer microvision  MEMS testing  precision measurement  virtual instrument  SYSTEM   A novel experimental method to measure interface trap density in gate-drain overlap region 其他 2003-01-01 Liu, DM; Wang, JY; Yang, GY; Xu, MZ; Tan, CH 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13 hot carrier  reliability  band trap band  interface trap  trap induced leakage (TIDL)  thermal-field emission  gate-to-drain overlap region  MOSFETS  DEGRADATION  LEAKAGE   High speed data acquisition system using USB interface 其他 2003-01-01 Xia, W 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/13 FIFO  CPLD  data acquisition system   Computer Microvision and Its Application for Mems Testing 其他 2003-01-01 Feng, Yalin; Li, Dachao; Jin, Cuiyun; Hao, Yilong; Jin, Shijiu 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/13 Thermally Robust High Quality HfN/HfO2 Gate Stack for Advanced CMOS Devices 其他 2003-01-01 Yu, H.Y.; Kang, J.F.; Chen, J.D.; Ren, C.; Hou, Y.T.; Whang, S.J.; Li, M.-F.; Chan, D.S.H.; Bera, K.L.; Tung, C.H.; Du, A.; Kwong, D.-L. 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13