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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：1999     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 FT-IRを用いた膜厚測定装置 专利 专利号: JP1999118432A, 申请日期: 1999-04-30, 公开日期: 1999-04-30 作者:  加藤 裕志 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2019/12/31 超薄Al膜可见光光学特性与其特征尺寸的关系 期刊论文 真空科学与技术, 1999, 期号: 2, 页码: 32-34 白雪冬,黄荣芳,闻立时 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2012/04/12 光学函数  介电函数  超薄铝膜   墨膜厚度与色偏 期刊论文 1999, 页码: 14 作者:  骆光林;  朱慧 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/12/25 色偏  印品质量  膜厚度  分光光度仪  墨层  墨膜  实验方法  观察比较  色彩学  标准曲线