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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Miniature RF Test Structure for On-Wafer Device Testing and In-Line Process Monitoring. 期刊论文 IEEE Transactions on Electron Devices, 2008, 卷号: Vol.55 No.1, 页码: 462-465 作者:  DavidChen;  Ming-HsiangCho;  An-SamPeng;  RyanLee;  Chune-SinYeh 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2020/01/13 SEMICONDUCTOR  wafers  MICROELECTRONICS  ELECTRONICS  ELECTRONIC  industries  ELECTRIC  engineering  INFORMATION  technology