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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Embedded test decompressor to reduce the required channels and vector memory of tester for complex processor circuit 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2007, 卷号: 15, 期号: 5, 页码: 531-540 作者:  Han, Yinhe;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei;  Li, Huawei;  Chandra, Anshuman 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/12/16 automatic test equipment (ATE)  Godson processor  MUX network  test stimulus decompression