QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Evaluation of openings in a dielectric layer 专利 专利号: US20060094136A1, 申请日期: 2006-05-04, 公开日期: 2006-05-04 作者:  BORDEN, PETER G.;  LI, JIPING;  GENIO, EDGAR 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2019/12/31 Measuring a property of a layer in multilayered structure 专利 专利号: US6906801, 申请日期: 2005-06-14, 公开日期: 2005-06-14 作者:  BORDEN, PETER G.;  LI, JIPING 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/23 Use of a coefficient of a power curve to evaluate a semiconductor wafer 专利 专利号: US6812717, 申请日期: 2004-11-02, 公开日期: 2004-11-02 作者:  BORDEN, PETER G.;  NIJMEIJER, REGINA G.;  KLEMME, BEVERLY J. 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/12/23 Apparatus and method for measuring a property of a layer in a multilayered structure 专利 专利号: US20030164946A1, 申请日期: 2003-09-04, 公开日期: 2003-09-04 作者:  BORDEN, PETER G.;  LI, JI PING 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/12/31 Apparatus and method for determining the active dopant profile in a semiconductor wafer 专利 专利号: EP1192444A1, 申请日期: 2002-04-03, 公开日期: 2002-04-03 作者:  BORDEN, PETER, G.;  NIJMEIJER, REGINA, G. 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/12/31