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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 考虑损耗的内置式永磁同步电机标幺化系统硬件在环实时仿真与测试 期刊论文 电工技术学报, 2016, 卷号: 31, 页码: 147-154 作者:  高瑾[1];  殷桂来[2];  霍锋伟[3];  黄苏融[4] 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/04/26 内置式永磁同步电机  损耗  硬件在环  标幺化建模   IGBT热模型的硬件在环实时仿真方法研究 期刊论文 电机与控制应用, 2016, 卷号: 43, 页码: 22-28 作者:  高瑾[1];  霍锋伟[2];  殷桂来[3];  黄苏融[4] 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/04/26 IGBT损耗及温升  现场可编程门阵列  硬件在环