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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A Concurrent Error Detection Based Fault Tolerant 32 nm XOR-XNOR Circuit Implementation 会议论文 作者:  Karmani, Mouna;  Khedhiri, Chiraz;  Hamdi, Belgacem;  Man, Ka Lok;  Lim, Eng Gee 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/10 Fault-tolerant systems  transistor stuck-open fault model  transistor stuck-on fault model  XOR-XNOR circuit  stuck-at fault model  Concurrent Error Detection (CED)