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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Improved Negative Bias Illumination Stability and Thermal Stability of HfZnSnO/ZnSnO Thin-Film Transistor Using Double-Channel Structure by Cosputtering 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2016, 卷号: 63, 页码: 4320-4325 作者:  Huang, Chuan-Xin[1];  Li, Jun[2];  Zhao, Cheng-Yu[3];  Fu, Yi-Zhou[4];  Zhang, Jian-Hua[5] 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2019/04/26 Density of states (DOS)  double-channel structure  Hf doping  negative bias illumination stress (NBIS) stability  temperature stress (TS) stability  thin-film transistors (TFTs)