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发表日期
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2002 [1]
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Failure Mechanisms of SAC/Fe-Ni Solder Joints During Thermal Cycling
期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS, 2017, 卷号: 46, 期号: 8, 页码: 5338-5348
Gao, Li-Yin
;
Liu, Zhi-Quan
;
Li, Cai-Fu
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2017/08/17
Fe-Ni under bump metallization (UBM)
thermal cycling
microstructural evolution
lifetime
recrystallization
electron backscatter diffraction (EBSD)
Life Test of the InGaAs Focal Plane Arrays Detector for Space Applications
会议论文
作者:
Zhu XL
;
Zhang HY
;
Li X
;
Huang ZC
;
Gong HM
收藏
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2018/11/20
Semantic linking through spaces for cyber-physical-socio intelligence: A methodology
期刊论文
ARTIFICIAL INTELLIGENCE, 2011, 卷号: 175, 期号: 5-6, 页码: 988-1019
作者:
Zhuge, Hai
收藏
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2019/12/16
Cyber-physical society
Cyber-physical-socio intelligence
Cyber-physical system
Complex intelligence
Future interconnection environment
Interactive semantics
Resource space model
Semantic link network
Effects of tetrabutoxytitanium on photoelectrochemical properties of plastic-based TiO2 film electrodes for flexible dye-sensitized solar cells
期刊论文
电源杂志, 2011
Fan, Ke
;
Peng, Tianyou
;
Chen, Junnian
;
Dai, Ke
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2015/11/12
Flexible dye-sensitized solar cell
Electrochemical impedance spectroscopy (EIS)
Low temperature fabrication
Tetrabutoxytitanium
LOW-TEMPERATURE FABRICATION
ENERGY-CONVERSION
NANOPARTICLES
DEPOSITION
EFFICIENCY
SUBSTRATE
LAYERS
阵列化互连LED模组寿命分布的蒙特卡洛模拟
期刊论文
2011
郑同场
;
李炳乾
;
夏正浩
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2016/05/17
LED模组
蒙特卡洛模拟
阵列化互连
可靠寿命
电流降额
LED module
Monte-Carlo simulation
array interconnection
reliability lifetime
current derating
Study of hydrogen embrittlement of Fe-Ni base alloy by positron annihilation lifetime spectroscopy
期刊论文
ACTA METALLURGICA SINICA, 2006, 卷号: 42, 期号: 5, 页码: 469-473
作者:
Zhang, J
;
Li, XY
;
Rong, LJ
;
Zheng, YN
;
Zhu, SY
收藏
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浏览/下载:0/0
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提交时间:2021/02/02
Fe-Ni base alloy
positron annihilation
precipitation-strengthening
hydrogen embrittlement
Electromechanical and optical properties of torsion-mirror actuators for optical switching applications
其他
2002-01-01
Wu, WG
;
Li, DC
;
Hao, YL
;
Yan, GZ
;
Jin, SJ
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/13
MEMS
micro actuator
torsion mirror
surface roughness
light scattering
light reflection
Reliability estimation model of IC's interconnect based on uniform distribution of defects on a chip (CPCI-S收录)
会议论文
18TH IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS, PROCEEDINGS
作者:
Zhao, TX
;
Duan, XC
收藏
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浏览/下载:0/0
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提交时间:2019/04/19
interconnection lifetime
electromigration effect
defect
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