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近代物理研究所 [13]
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内容类型
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发表日期
2020 [1]
2019 [2]
2017 [3]
2016 [3]
2015 [2]
2014 [1]
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Investigation of single event effect in 28-nm system-on-chip with multi patterns*
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2020, 卷号: 29, 期号: 10, 页码: 5
作者:
Yang, Wei-Tao
;
Li, Yong-Hong
;
Guo, Ya-Xin
;
Zhao, Hao-Yu
;
Li, Yang
收藏
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2021/12/15
system-on-chip
heavy ion
single event effect
Design and verification of universal evaluation system for single event effect sensitivity measurement in very-large-scale integrated circuits
期刊论文
IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2019, 卷号: 16, 期号: 10, 页码: 6
作者:
Xu, Liewei
;
Cai, Chang
;
Liu, Tianqi
;
Ke, Lingyun
;
Yu, Jun
收藏
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浏览/下载:67/0
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提交时间:2019/11/10
FPGA
single event effects
heavy ions
irradiation
Heavy ion-induced single event effects in active pixel sensor array
期刊论文
SOLID-STATE ELECTRONICS, 2019, 卷号: 152, 期号: 2, 页码: 93-99
作者:
Cai, YL (Cai, Yu-Long)[ 1,2,3 ]
;
Guo, Q (Guo, Qi)[ 1,2 ]
;
Li, YD (Li, Yu-Dong)[ 1,2 ]
;
Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ]
;
Zhou, D (Zhou, Dong)[ 1,2 ]
收藏
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浏览/下载:128/0
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提交时间:2019/01/03
CMOS active pixel sensor (APS)
SEE
Heavy ion
Development of single-event-effects analysis system at the IMP microbeam facility
期刊论文
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2017, 卷号: 404, 页码: 250-253
作者:
Du, Guanghua
;
Bi, Jinshun
;
Ma, Shuyi
;
Liu, Xiaojun
;
Sheng, Lina
收藏
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浏览/下载:26/0
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提交时间:2018/05/31
Development of single-event-effects analysis system at the IMP microbeam facility
会议论文
作者:
Guo, Jinlong
;
Ma, Shuyi
;
Liu, Xiaojun
;
Sheng, Lina
;
Li, Yaning
收藏
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2018/08/20
Development of single-event-effects analysis system at the IMP microbeam facility
会议论文
作者:
Sheng, Lina
;
Guo, Jinlong
;
Du, Guanghua
;
Bi, Jinshun
;
Liu, Wenjing
收藏
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浏览/下载:25/0
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提交时间:2018/08/20
Implementation and verification of different ECC mitigation designs for BRAMs in flash-based FPGAs
期刊论文
CHINESE PHYSICS C, 2016, 卷号: 40, 页码: 9
作者:
Yang, Zhen-Lei
;
Wang, Xiao-Hui
;
Zhang, Zhan-Gang
;
Liu, Jie
;
Su, Hong
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2018/05/31
single event effects
flash-based FPGAs
BRAMs
error correcting codes
Hamming codes
BCH codes
Experimental study on heavy ion single-event effects in flash-based FPGAs
期刊论文
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2016, 卷号: 27, 页码: 8
作者:
Liu, Tian-Qi
;
Yang, Zhen-Lei
;
Liu, Jie
;
Wang, Xiao-Hui
;
Su, Hong
收藏
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2018/05/31
Single-event effects (SEEs)
Flash-based FPGAs
HIRFL
Heavy ion experiments
Single event effect hardness for the front-end ASICs in the DAMPE satellite BGO calorimeter
期刊论文
CHINESE PHYSICS C, 2016, 卷号: 40, 页码: 6
作者:
Gao, Shan-Shan
;
Jiang, Di
;
Feng, Chang-Qing
;
Xi, Kai
;
Liu, Shu-Bin
收藏
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浏览/下载:27/0
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提交时间:2018/05/31
space electronics
single event effects
radiation hardness
heavy ion
pulsed laser
A flexible and robust soft-error testing system for microelectronic devices and integrated circuits
期刊论文
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2015, 卷号: 26, 页码: 7
作者:
Gu Song
;
Su Hong
;
Liu Jie
;
Zhang Zhan-Gang
;
Tong Teng
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2018/05/31
SEE testing
Testing system
Single Event Effects
Soft errors
HIRFL
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