×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
兰州大学 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
1996 [1]
1994 [1]
学科主题
701.1 Elec... [1]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共2条,第1-2条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
退火对C↓(60)薄膜电学性质的影响
期刊论文
半导体学报/Pan Tao Ti Hsueh Pao/Chinese Journal of Semiconductors, 1996, 卷号: 17, 期号: 5, 页码: 353-359
作者:
巩金龙
;
李亚虹
;
马国斌
;
陈光华
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2015/04/27
膜电导率:7256
C_(60)薄膜:4545
电学性质:3394
退火时间:2317
晶粒数目:1722
室温电导率:1692
激活能:1322
高温区域:997
缺陷态:914
不稳定相:612
Annealing effects
Carbon films conductivity
a-Si:H_a-SiC_x:H超晶格的界面特性
期刊论文
物理学报, 1994, 期号: 11, 页码: 7
作者:
陈光华
;
郭永平
;
姚江宏
;
宋志忠
;
张仿清
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2015/04/27
超晶格:8752
a-Si:2767
态密度:2067
缺陷态:1809
界面缺陷:1535
光学带隙:1360
半导体超晶格:1158
界面区域:977
火行为:920
热稳定性:914
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace