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基于泽尼克相衬成像的相移干涉显微装置及方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN102221327, 申请日期: 2012-07-11, 公开日期: 2014-05-06
作者:  但旦
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博士论文-X射线相衬显微成像方法研究及其应用 学位论文
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2012
作者:  洪友丽
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