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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 半导体材料表面缺陷测量装置及表面缺陷测量方法 专利 专利类型: 发明, 专利号: 102495043A, 申请日期: 2013-10-30, 公开日期: 2014-01-20 作者:  刘争晖;  钟海舰;  徐科;  曾雄辉;  王建峰 收藏  |  浏览/下载：53/0  |  提交时间：2014/01/20 天津市典型排污河水体中溶解性有机质的荧光分布特征分析 期刊论文 环境科学学报, 2012, 卷号: 1, 期号: 9, 页码: 2140-2148 狄晓威; 彭淑龙; 刘俊新; 肖本益 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2014/12/05 溶解性有机质  荧光特征  典型排污河  污染来源   YVO_4:Er~(3+)上转换发光纳米晶的制备与表征 会议论文 中国海南三亚 孙雅娟; 王新; 张杰; 王新; 刘瑞林; 朝克夫; 冯力蕴; 张友林; 曾庆辉; 孔祥贵 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2013/03/19 纳米晶:5044  上转换发光:4206  透射电子显微镜:3281  柠檬酸盐:2991  YVO_4:2879  水热方法:2759  物理研究所:2464  Er3+:2380  重点实验室:2206  发光光谱:2148