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北京大学 [2]
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其他 [2]
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2015 [1]
2011 [1]
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Hole mobility in InSb-based devices: Dependence on surface orientation, body thickness, and strain
其他
2015-01-01
Chang, Pengying
;
Liu, Xiaoyan
;
Zeng, Lang
;
Du, Gang
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2017/12/03
Surface orientation
Strain
Hole mobility
InSb
III-V semiconductor
Modeling
V COMPOUND SEMICONDUCTORS
DEFORMATION POTENTIALS
INVERSION-LAYERS
Influence of Radial Stress on the Performance of Gate-All-Around Ge(110) NW FETs with HfO2 Dielectric
其他
2011-01-01
Xu, Honghua
;
Liu, Xiaoyan
;
Du, Gang
;
He, Yuhui
;
Fan, Chun
;
Han, Ruqi
;
Kang, Jinfeng
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2015/11/13
Radial Stress
Strain Tensor Distribution
Valence Subband
Hole Mobility
FIELD-EFFECT TRANSISTORS
LAYER
NANOWIRES
DEVICES
STRAIN
IMPACT
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