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安徽大学 [2]
内容类型
期刊论文 [2]
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2018 [1]
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Recursive Bayesian state estimation method for run-to-run control in high-mixed semiconductor manufacturing process
期刊论文
Asian Journal of Control, 2018
作者:
Tan, Fei
;
Bian, Jun
;
Wang, Haiyan
;
Wang, Weiran
;
Pan, Tianhong
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/04/24
Recursive Bayesian state estimation method for run‐to‐run control in high‐mixed semiconductor manufacturing process
期刊论文
Asian Journal of Control
作者:
Jun Bian
;
Tianhong Pan
;
Haiyan Wang
;
Fei Tan
;
Weiran Wang
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浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2019/04/24
Bayesian
estimation
theory
high‐mix
semiconductor
manufacturing
process
run‐to‐run
control
state
estimation
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