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科研机构
山东大学 [11]
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期刊论文 [10]
会议论文 [1]
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2017 [3]
2016 [5]
2015 [3]
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Enhanced effect of diffused Ohmic contact metal atoms for device scaling in AlGaN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, 2017, 卷号: 103, 页码: 113-120
作者:
Liu, Huan
;
Cheng, Aijie
;
Lin, Zhaojun
;
Cui, Peng
;
Liu, Yan
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/12/11
AIGaN/GaN HFETs
Diffused Ohmic contact metal atoms
Polarization
Coulomb field scattering
ELM model for power system transient stability assessment
期刊论文
Proceedings - 2017 Chinese Automation Congress, CAC 2017, 2017, 卷号: 2017-January, 页码: 5740-5744
作者:
Zhang, Linlin
;
Hu, Xiongwei
;
Li, Peng
;
Shi, Fang
;
Yu, Zhihong
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2019/12/12
ELM
feature analysis
power system
transient stability
ELM Model for Power System Transient Stability Assessment
会议论文
Chinese Automation Congress (CAC), OCT 20-22, 2017
作者:
Zhang Linlin
;
Hu Xiongwei
;
Li Peng
;
Shi Fang
;
Yu Zhihong
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/31
power system
transient stability
ELM
feature analysis
Study of Gate Width Influence on Extrinsic Transconductance in AlGaN/GaN Heterostructure Field-Effect Transistors With Polarization Coulomb Field Scattering
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2016, 卷号: 63, 期号: 10, 页码: 3908-3913
作者:
Yang, Ming
;
Lv, Yuanjie
;
Feng, Zhihong
;
Lin, Wei
;
Cui, Peng
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/12/16
AlGaN/GaN heterostructure FETs (HFETs)
extrinsic transconductance
polarization Coulomb field (PCF) scattering
Study of source access resistance at direct current quiescent points for AlGaN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2016, 卷号: 119, 期号: 22
作者:
Yang, Ming
;
Lv, Yuanjie
;
Feng, Zhihong
;
Lin, Wei
;
Cui, Peng
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  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2019/12/16
Effect of Polarization Coulomb Field Scattering on Parasitic Source Access Resistance and Extrinsic Transconductance in AlGaN/GaN Heterostructure FETs
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2016, 卷号: 63, 期号: 4, 页码: 1471-1477
作者:
Yang, Ming
;
Lin, Zhaojun
;
Zhao, Jingtao
;
Cui, Peng
;
Fu, Chen
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2019/12/16
AlGaN/GaN heterostructure FETs (HFETs)
extrinsic transconductance
parasitic source access resistance
polarization Coulomb field (PCF)
scattering
Demographic and clinical characteristics related to cognitive decline in Alzheimer disease in China: A multicenter survey from 2011 to 2014
期刊论文
MEDICINE, 2016, 卷号: 95, 期号: 26
作者:
Peng, Dantao
;
Shi, Zhihong
;
Xu, Jun
;
Shen, Lu
;
Xiao, Shifu
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浏览/下载:41/0
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提交时间:2019/12/16
Alzheimer disease
assessment instrument
risk factors
symptom duration
Influence of different GaN cap layer thicknesses on electron mobility in AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, 2016, 卷号: 100, 页码: 358-364
作者:
Cui, Peng
;
Liu, Huan
;
Lin, Zhaojun
;
Cheng, Aijie
;
Liu, Yan
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/17
AlGaN/GaN HFETs
Cap layer thickness
Polarization Coulomb field
scattering
Effects of rapid thermal annealing on the electrical properties and the strain of the AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors with Ni/Au gate electrodes
期刊论文
APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 2015, 卷号: 121, 期号: 3, 页码: 1271-1276
作者:
Zhao, Jingtao
;
Lin, Zhaojun
;
Chen, Quanyou
;
Yang, Ming
;
Cui, Peng
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/17
A study of the impact of gate metals on the performance of AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2015, 卷号: 107, 期号: 11
作者:
Zhao, Jingtao
;
Lin, Zhaojun
;
Chen, Quanyou
;
Yang, Ming
;
Cui, Peng
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/17
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