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一种对RRAM器件的脉冲参数进行测试的电路 专利
专利号: CN201310491719.5, 申请日期: 2017-02-01, 公开日期: 2014-01-22
作者:  龙世兵;  王国明;  张美芸;  李阳;  王明
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一种制备纳米器件的方法 专利
专利号: CN201310491769.3, 申请日期: 2016-03-16, 公开日期: 2014-01-08
作者:  龙世兵;  张美芸;  王国明;  李阳;  王明
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An overview of the switching parameter variation of RRAM 期刊论文
Chin. Sci. Bull., 2014
作者:  Wang GM(王国明);  Sun PX(孙鹏霄);  Sun HT(孙海涛);  Liu Q(刘琦);  Lv HB(吕杭炳)
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