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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Statistical Analysis on Performance Degradation of 90 nm bulk SiMOS Devices Irradiated by Heavy Ions 其他 2016-01-01 Zhexuan Ren; Xia An; Weikang Wu; Xing Zhang; Ru Huang 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 irradiation  saturation  trapped  charges  irradiated  attributed  hardened  intrinsic  leakage  incident  irradiation  saturation  trapped  charges  irradiated  attributed  hardened  intrinsic  leakage  incident   Impact of heavy ion irradiation on CMOS current mirrors based on SOI and bulk Si substrates: mismatch and output impedance 其他 2015-01-01 Wu, Weikang; An, Xia; Tan, Fei; Chen, Yehua; Liu, Jingjing; Zhang, Yao; Zhang, Xing; Shen, Dongjun; Guo, Gang; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/04 current mirrors  heavy ions  damage  mismatch  output impedance  single event  PDSOI  MOSFETS  VARIABILITY  MICRODOSE  CIRCUITS  DEVICES  DESIGN   Investigation on TID tolerance of 65nm bulk silicon nMOSFETs 其他 2014-01-01 Chen, Yehua; An, Xia; Wu, Weikang; Yao, Zhibin; Zhang, Xing; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13