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浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 内容类型：其他    专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Demonstration of Bidirectional PON Based on Mode Division Multiplexing 其他 2016-01-01 Hu, Tao; Li, Juhao; Ren, Fang; Tang, Ruizhi; Yu, Jinyi; Mo, Qi; Ke, Yili; Du, Cheng; Liu, Zhijian; He, Yongqi; Li, Zhengbin; Chen, Zhangyuan 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 Optical Fiber Communication (OFC)  Mode Division Multiplexed (MDM)  Passive Optical Network (PON)  PASSIVE OPTICAL NETWORK  TRANSMISSION  FIBER   Performance enhancement of normally-off Al2O3/AlN/GaN MOS-Channel-HEMTs with an ALD-grown AlN interfacial layer 其他 2014-01-01 Liu, Shenghou; Yang, Shu; Tang, Zhikai; Jiang, Qimeng; Liu, Cheng; Wang, Maojun; Chen, Kevin J. 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/17 Nonparametric regression with discrete covariate and missing values 其他 2011-01-01 Chen, Song Xi; Tang, Cheng Yong 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 Nonparametric regression  Discrete kernel smoothing  Imputation  Missing values  Variance reduction  MULTIVARIATE BINARY DISCRIMINATION  CONFIDENCE BANDS  EMPIRICAL LIKELIHOOD  FUNCTIONALS  MODELS   Properties of Census Dual System Population Size Estimators 其他 2011-01-01 Chen, Song Xi; Tang, Cheng Yong 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/10 Capture-recapture  discrete covariate  erroneous enumeration  kernel smoothing  model bias  population size estimation  POST-ENUMERATION SURVEY  RECAPTURE  MODELS  UNDERCOUNT  REGRESSION  CAPTURE  SAMPLE   Transient leakage current technique for MIS HEMT (A12O3/AlGaN/GaN) dielectric semiconductor interface property characterization 其他 2008-01-01 Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Chen, Hongwei; Hao, Y.L.; Lau, K.M.; Tang, C.W. 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/10 Evidence of mobile holes on GaN HFET barrier layer surface - root cause of high power transistor amplifier current collapse 其他 2008-01-01 Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Hao, Yilong; Zhang, Yaohui; Lau, Keimay; Tang 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2015/11/10 Evidence of Mobile Holes on GaN HFET Barrier Layer Surface - Root Cause of High Power TransistorAmplifier Current Collapse 其他 2008-01-01 Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Hao, Yilong; Zhang, Yaohui; Lau, Keimay; Tang 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 Transient Leakage Current Technique for MIS HEMT (Al(2)O(3)/AlGaN/GaN) Dielectric Semiconductor Interface Property Characterization 其他 2008-01-01 Wen, Cheng P.; Wang, Jinyan; Chen, Hongwei; Hao, Y. L.; Lau, K. M.; Tang, C. W. 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13