×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
华南理工大学 [3]
内容类型
会议 [3]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共3条,第1-3条
帮助
限定条件
内容类型:会议
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
An edge-detection method based on adaptive canny algorithm and iterative segmentation threshold (EI收录)
会议
Singapore, Singapore,
作者:
Qiang, Song[1]
;
Guoying, Lin[1]
;
Ma, Jingqi[2]
;
Zhang, Hongmei[3]
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2019/04/11
Cracks
Edge detection
Image segmentation
Iterative methods
Pixels
Surface defects
Systems engineering
Sneak-path Based Test for 3D Stacked One-Transistor-N-RRAM Array (CPCI-S收录)
会议
作者:
Zhang, Qiang[1]
;
Cui, Xiaole[1]
;
Xu, Xiaoyan[1]
;
Wang, Xin'an[1]
;
Ma, Zhi[2]
收藏
  |  
浏览/下载:0/0
  |  
提交时间:2019/04/11
RRAM
test technique
sneak-paths
resistance variation
Dynamic wetting behavior and solder ball spattering formation of Sn-Bi solder pastes during reflow soldering process (CPCI-S收录)
会议
作者:
Tan, Meng-Ying
;
Zhou, Min-Bo
;
Huang, Lia-Qiang
;
Ma, Fa-Qian
;
Ma, Xiao
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2019/04/11
surface defect
solder ball spattering
Sn-Bi solder paste
reflow soldering process
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace