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一种芯片表观缺陷检测方法 专利
公开日期: [db:dc_date_available]
作者:  袁小芳;  刘琛;  田争鸣;  王浩然;  陈祎婧
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一种永磁同步电机故障检测方法和系统 专利
公开日期: [db:dc_date_available]
作者:  袁小芳;  刘琛;  刘晋伟;  黄国明;  王浩然
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一种永磁同步电机性能退化评估方法和系统 专利
公开日期: [db:dc_date_available]
作者:  袁小芳;  王浩然;  刘琛;  刘晋伟;  黄国明
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一种交流伺服电机现场效率检测方法和系统 专利
公开日期: [db:dc_date_available]
作者:  袁小芳;  刘晋伟;  黄国明;  万长京;  刘琛
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