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专题:湖南大学
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一种芯片表观缺陷检测方法
专利
公开日期: [db:dc_date_available]
作者:
袁小芳
;
刘琛
;
田争鸣
;
王浩然
;
陈祎婧
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提交时间:2019/12/13
一种永磁同步电机故障检测方法和系统
专利
公开日期: [db:dc_date_available]
作者:
袁小芳
;
刘琛
;
刘晋伟
;
黄国明
;
王浩然
收藏
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提交时间:2019/12/17
一种永磁同步电机性能退化评估方法和系统
专利
公开日期: [db:dc_date_available]
作者:
袁小芳
;
王浩然
;
刘琛
;
刘晋伟
;
黄国明
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提交时间:2019/12/17
一种交流伺服电机现场效率检测方法和系统
专利
公开日期: [db:dc_date_available]
作者:
袁小芳
;
刘晋伟
;
黄国明
;
万长京
;
刘琛
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提交时间:2019/12/17
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