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一种测量航天器介质材料深层充电特征参数的装置及方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2013-01-01, 公开日期: 2013-12-18
张振龙; 曹旭纬; 吴逢时; 韩建伟; 李书田
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