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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2022     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Bias dependence of total ionizing dose effects in 22 nm bulk nFinFETs 期刊论文 RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2022, 卷号: 177, 期号: 3-4, 页码: 372-382 作者:  Cui, X (Cui, Xu) [1] , [2] , [3];  Cui, JW (Cui, Jiang-Wei) [1] , [2] , [3];  Zheng, QW (Zheng, Qi-Wen) [1] , [2] , [3];  Wei, Y (Wei, Ying) [1] , [2] , [3];  Li, YD (Li, Yu-Dong) [1] , [2] , [3] 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2022/06/21 FinFET  1/f noise  TlD  CVS  bias dependence   Single event transient effect of frontside and backside illumination image sensors under proton irradiation 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2022, 卷号: 71, 期号: 5, 页码: 1-9 作者:  Fu, J (Fu Jing) [1] , [2] , [3];  Cai, YL (Cai Yu-Long) [4];  Li, YD (Li Yu-Dong) [1] , [2];  Feng, J (Feng Jie) [1] , [2];  Wen, L (Wen Lin) [1] , [2] 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2022/06/06 CMOS image sensor  proton irradiation  single event effect  transientbrightspot