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Radiation hardness studies of ams hv-cmos 350nm prototype chip hvstripv1 期刊论文
Journal of instrumentation, 2017, 卷号: 12, 页码: 18
作者:  Kanisauskas, K.;  Affolder, A.;  Arndt, K.;  Bates, R.;  Benoit, M.
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Radiation hardness studies of AMS HV-CMOS 350nm prototype chip HVStripV1 期刊论文
JOURNAL OF INSTRUMENTATION, 2017, 卷号: 12, 页码: 2010
作者:  Kanisauskas, K;  Affolder, A;  Arndt, K;  Bates, R;  Benoit, M
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