QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2015     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Heavy-Ion Microbeam Fault Injection into SRAM-Based FPGA Implementations of Cryptographic Circuits 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2015, 卷号: 62, 页码: 1341-1348 作者:  Shao, Cuiping;  Li, Huiyun;  Xu, Guoqing;  Guo, Jinlong;  Dai, Liang 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2018/05/31 Cryptographic integrated circuits  fault injection  heavy ion  microbeam  single-event transient (SET)   Heavy-ion Microbeam Fault Injection into SRAM-based FPGA Implementations of Cryptographic Circuits 期刊论文 IEEE Transactions on Nuclear Science, 2015 作者:  Huiyun Li;  Guanghua Du;  Cuiping Shao;  Liang Dai;  Guoqing Xu 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2016/01/27 SEU Reliability Evaluation of 3D ICs 期刊论文 Electronics Letters, 2015 作者:  Huiyun Li;  Xiaobo Hu;  Cuiping Shao;  Jianbin Zhou;  Guoqing Xu 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2016/01/27