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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2014     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 复合绝缘子典型内部缺陷的相控阵检测 (EI收录) 期刊论文 《高电压技术》, 2014, 卷号: 40, 页码: 837-842 作者:  谢从珍[1];  袁超[1] 何子兰[1];  李立浧[1] 张福增[2] 李锐海[2] 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/04/25 复合绝缘子 内部缺陷  超声波  相控阵 检出效率  无损检测