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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 发表日期：2014    专题：上海技术物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 一种碲锌镉晶片损伤层厚度的检测方法 专利 专利号: 201410546842.7, 申请日期: 2014-10-16, 公开日期: 2017-02-08 作者:  1虞慧娴2孙士文 3杨建荣4周昌鹤 5徐超 6 周梅华 7王云 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2017/12/12 碲镉汞液相外延薄膜背面残液的去除方法 专利 专利类型: 发明, 专利号: 201210142488.2, 申请日期: 2014-01-01, 公开日期: 2015-01-06 1孙瑞贇 2杨建荣 3魏彦锋 4张传杰 5孙权志 6陈倩男 7张娟 8陈晓静 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2015/01/06