CORC

浏览/检索结果: 共1条,第1-1条 帮助

限定条件        
已选(0)清除 条数/页:   排序方式:
Investigation on TID tolerance of 65nm bulk silicon nMOSFETs 其他
2014-01-01
Chen, Yehua; An, Xia; Wu, Weikang; Yao, Zhibin; Zhang, Xing; Huang, Ru
收藏  |  浏览/下载:2/0  |  提交时间:2015/11/13


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace