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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2011    内容类型：会议论文    专题：西安交通大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Damage Effect of Typical Electronic Device under EMP 会议论文 作者:  Cheng, Yonghong;  Ding, Man;  Wu, Kai;  Wang, Yajie;  Zhou, Debo 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/12/10 electronic device  lightning surge pusle  component  failure  nanosecond square pulse   Damage effect of typical electronic device under EMP 会议论文 作者:  Cheng, Yonghong;  Ding, Man;  Wu, Kai;  Wang, Yajie;  Zhou, Debo 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/10 Characteristic size  Damage and failure  Electromagnetic environments  Electronic device  High technology  Integrated degree  Lightning surges  Square pulse   Damage effect of typical electronic device under EMP 会议论文 作者:  Cheng, Yonghong;  Ding, Man;  Wu, Kai;  Wang, Yajie;  Zhou, Debo 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/10 electronic device  failure  lightning surge pusle  nanosecond square pulse