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A new method to determine the 2DEG density distribution for passivated AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, 2018, 卷号: 113, 页码: 160-168
作者:
Fu, Chen
;
Lin, Zhaojun
;
Cui, Peng
;
Lv, Yuanjie
;
Zhou, Yang
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/12/11
AIGaN/AIN/GaN HFETs
2DEG density distribution
Passivation
Polarization Coulomb field scattering
The influence of the PCF scattering on the electrical properties of the AlGaN/AlN/GaN HEMTs after the Si3N4 surface passivation
期刊论文
APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 2018, 卷号: 124, 期号: 4
作者:
Fu, Chen
;
Lin, Zhaojun
;
Cui, Peng
;
Lv, Yuanjie
;
Zhou, Yang
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/12/11
Targeted Genotyping Identifies Susceptibility Locus in Brain-derived Neurotrophic Factor Gene for Chronic Postsurgical Pain
期刊论文
ANESTHESIOLOGY, 2018, 卷号: 128, 期号: 3, 页码: 587-597
作者:
Tian, Yuanyuan
;
Liu, Xiaodong
;
Jia, Mingzhong
;
Yu, Hui
;
Lichtner, Peter
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/11
Dislocation bending in GaN/step-graded (Al,Ga)N/AlN buffer layers on Si(111) investigated by STM and STEM
期刊论文
PHILOSOPHICAL MAGAZINE, 2018, 卷号: 98, 期号: 34, 页码: 3072-3085
作者:
Zhang, Lei
;
Portz, Verena
;
Schnedler, Michael
;
Jin, Lei
;
Wang, Yuhan
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2019/12/11
Dislocation bending
step-graded (Al
Ga)N/AlN
cross-section scanning
tunnelling microscopy
nitrides on silicon
Influence of polarization Coulomb field scattering on high-temperature electron mobility in AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, 2018, 卷号: 120, 页码: 389-394
作者:
Liu, Yan
;
Lin, Zhaojun
;
Cui, Peng
;
Fu, Chen
;
Lv, Yuanjie
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/11
AlGaN/AlN/GaN HFET
High-temperature electron mobility
Polarization
Coulomb field scattering
The influence of the PCF scattering on the electrical properties of the AlGaN/AlN/GaN HEMTs after the Si3N4surface passivation
期刊论文
Applied Physics A: Materials Science and Processing, 2018, 卷号: 124, 期号: 4
作者:
Fu, Chen
;
Lin, Zhaojun
;
Cui, Peng
;
Lv, Yuanjie
;
Zhou, Yang
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/11
Influence of AlN barrier thickness on AlN/GaN heterostructure optical and transport properties
期刊论文
OPTOELECTRONICS AND ADVANCED MATERIALS-RAPID COMMUNICATIONS, 2017, 卷号: 11, 期号: 3-4, 页码: 184-188
作者:
Li, Jianfei
;
Lv, Yuanjie
;
Huang, Shulai
;
Ji, Ziwu
;
Pang, Zhiyong
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/11
Strain relaxation
Hall effect
Photoluminescence
Crack
Parasitic source resistance at different temperatures for AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
CHINESE PHYSICS B, 2017, 卷号: 26, 期号: 9
作者:
Liu, Yan
;
Lin, Zhao-Jun
;
Lv, Yuan-Jie
;
Cui, Peng
;
Fu, Chen
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/12/11
AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors (HFETs)
parasitic source resistance
polarization Coulomb field scattering
Determination of the strain distribution for the Si3N4 passivated AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, 2017, 卷号: 111, 页码: 806-815
作者:
Fu, Chen
;
Lin, Zhaojun
;
Liu, Yan
;
Cui, Peng
;
Lv, Yuanjie
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/11
AlGaN/AlN/GaN HFETs
Strain distribution
Passivation
Polarization
coulomb field scattering
Influence of the gate position on source-to-drain resistance in AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
期刊论文
AIP ADVANCES, 2017, 卷号: 7, 期号: 8
作者:
Liu, Yan
;
Lin, Zhaojun
;
Cui, Peng
;
Zhao, Jingtao
;
Fu, Chen
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提交时间:2019/12/11
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