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光电技术研究所 [18]
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期刊论文 [14]
会议论文 [4]
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2018 [4]
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Bloch Surface Wave Assisted Structured Illumination Microscopy for Sub-100 nm Resolution
期刊论文
IEEE Photonics Journal, 2020, 卷号: 13, 期号: 1, 页码: 4500109
作者:
Weijie Kong
;
Changtao Wang
;
Mingbo Pu
;
Xiaoliang Ma
;
Xiong Li
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浏览/下载:50/0
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提交时间:2021/05/11
Imaging , Lighting , Spatial resolution , Microscopy , Optical surface waves , Optical microscopy , Optical imaging
Efficient Profilometry Using Tilted Grating Scanning Structured Illumination Microscopy
期刊论文
IEEE Photonics Technology Letters, 2020, 卷号: 32, 期号: 9, 页码: 522-525
作者:
Wei, Haojie
;
Hu, Song
;
Tang, Yan
;
Xie, Zhongye
;
Liu, Xi
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浏览/下载:10/0
  |  
提交时间:2021/05/11
Momentum-Accelerated Incoherent Fourier Ptychographic Photography
期刊论文
IEEE Photonics Journal, 2020, 卷号: 12, 期号: 2, 页码: 3900414-1-14
作者:
Wei, Weilong
;
Xie, Zongliang
;
Ma, Haotong
;
Qi, Bo
;
Ren, Ge
收藏
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2021/05/11
Incoherent Fourier Ptychography
Momentum-accelerated
Super-resolution
3D Super-Resolution Reconstruction Using Microsphere-Assisted Structured Illumination Microscopy
期刊论文
IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 卷号: 31, 期号: 22, 页码: 1783-1786
作者:
Xie, Zhongye
;
Hu, Song
;
Tang, Yan
;
Liu, Xi
;
Liu, Junbo
收藏
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浏览/下载:40/0
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提交时间:2021/05/06
Microscopy
surface topography
microsphere
Fast surface profilometry utilizing structured illumination microscopy based on the time-domain phase-shift technique
期刊论文
Applied Optics, 2019, 卷号: 58, 期号: 30, 页码: 8180-8186
作者:
Liu, Lei
;
Tang, Yan
;
Xie, Zhongye
;
Feng, Jinhua
;
He, Yu
收藏
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浏览/下载:27/0
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提交时间:2021/05/06
Fast structured illumination microscopy with reflectance disturbance resistibility and improved accuracy
期刊论文
Optics Express, 2019, 卷号: 27, 期号: 15, 页码: 21508-21519
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
He, Yu
;
Liu, Junbo
;
Feng, Jinhua
收藏
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2021/05/06
Profilometry with Enhanced Accuracy Using Differential Structured Illumination Microscopy
期刊论文
IEEE Photonics Technology Letters, 2019, 卷号: 31, 期号: 13, 页码: 1017-1020
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
Liu, Xi
;
Liu, Junbo
;
He, Yu
收藏
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2021/05/06
Microscopy
surface topography
thickness measurement
Accurate surface profilometry using differential optical sectioning microscopy with structured illumination
期刊论文
Optics Express, 2019, 卷号: 27, 期号: 8, 页码: 11721-11733
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
Feng, Jinhua
;
Liu, Junbo
;
Hu, Song
收藏
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浏览/下载:31/0
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提交时间:2021/05/06
Efficient super-resolution imaging method for micro-nano structure based on structured illumination modulation
会议论文
Chengdu, China, June 26, 2018 - June 29, 2018
作者:
Yang, Kejun
;
Tang, Yan
;
Hu, Song
;
Chen, Chuyi
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2021/05/06
Fast thickness measurement of thin films using two-dimensional Fourier transform-based structured illumination microscopy
会议论文
Chengdu, China, June 26, 2018 - June 29, 2018
作者:
Xie, Zhongye
;
Tang, Yan
;
Liu, Xi
;
Yang, Kejun
;
Hu, Song
收藏
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2021/05/06
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