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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 专题：新疆理化技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Heavy ion-induced single event effects in active pixel sensor array 期刊论文 SOLID-STATE ELECTRONICS, 2019, 卷号: 152, 期号: 2, 页码: 93-99 作者:  Cai, YL (Cai, Yu-Long)[ 1,2,3 ];  Guo, Q (Guo, Qi)[ 1,2 ];  Li, YD (Li, Yu-Dong)[ 1,2 ];  Wen, L (Wen, Lin)[ 1,2 ];  Zhou, D (Zhou, Dong)[ 1,2 ] 收藏  |  浏览/下载：129/0  |  提交时间：2019/01/03 CMOS active pixel sensor (APS)  SEE  Heavy ion   Simulation and sesign of single event effect radiation hardening for SiGe heterojunction bipolar transistor 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2015, 卷号: 64, 期号: 11 作者:  Li, P (Li Pei);  Guo, HX (Guo Hong-Xia);  Guo, Q (Guo Qi);  Wen, L (Wen Lin);  Cui, JW (Cui Jiang-Wei) 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2015/07/11 SiGe heterojunction bipolar transistor  single event effect  hardening design  dummy collector