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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 专题：计算技术研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Embedded test resource for SoC to reduce required tester channels based on advanced convolutional codes 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2006, 卷号: 55, 期号: 2, 页码: 389-399 作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2019/12/16 automatic test equipment  convolutional code  diagnosis  error cancellation  masking  unknown bits (X-bits)