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物理研究所 [1]
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期刊论文 [1]
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2002 [1]
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Terminating atomic plane and growth mechanism study of perovskite oxide thin films by angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy
期刊论文
ASIAN JOURNAL OF SPECTROSCOPY, 2002, 卷号: 6, 期号: 1, 页码: 17
Cui, DF
;
Guo, XX
;
Chen, ZH
;
Zhou, YL
;
Yang, GZ
;
Huang, HZ
;
Zhang, H
;
Lui, FQ
;
Ibrahim, K
;
Qian, HJ
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提交时间:2013/09/23
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