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科研机构
西安交通大学 [1]
内容类型
期刊论文 [1]
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2012 [1]
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Simulation of electron scattering and transmission in characterization of thick films by scanning transmission electron microscopy
期刊论文
Zhenkong Kexue yu Jishu Xuebao/Journal of Vacuum Science and Technology, 2012, 卷号: 32, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 68-73
作者:
Wang, Fang
;
Cao, Meng
;
Zhang, Haibo
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提交时间:2019/12/10
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Atomic numbers
Brightfield
Electron energies
Electron transmission
Experimental data
Monte Carlo Simulation
Scanning transmission electron microscopy
Scattering number
Simulated results
Thick specimens
Transmission characteristics
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