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北京大学 [5]
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2010 [3]
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Microscopic origin of read current noise in TaOx-based resistive switching memory by ultra-low temperature measurement
期刊论文
APPLIED PHYSICS LETTERS, 2016
Pan, Yue
;
Cai, Yimao
;
Liu, Yefan
;
Fang, Yichen
;
Yu, Muxi
;
Tan, Shenghu
;
Huang, Ru
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2017/12/03
RANDOM TELEGRAPH NOISE
DEVICE
OXIDES
RRAM
A novel optical readout infrared FPA imaging system with fiber reference channel
期刊论文
光学快报, 2012
Chu, Xuhong
;
Zhao, Yuejin
;
Dong, Liquan
;
Jia, Qian
;
Kong, Lingqin
;
Yu, Xiaomei
;
Liu, Xiaohua
;
Gong, Cheng
;
Jin, Yufeng
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/16
MICROCANTILEVER ARRAY
Characteristics of Gate Current Random Telegraph Signal Noise in SiON/HfO2/TaN p-Type Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors under Negative Bias Temperature Instability Stress Condition
其他
2010-01-01
Zhang, Liangliang
;
Liu, Changze
;
Wang, Runsheng
;
Huang, Ru
;
Yu, Tao
;
Zhuge, Jing
;
Kirsch, Paul
;
Tseng, Hsing-Huang
;
Wang, Yangyuan
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/13
STACKS
MOSFETS
Investigation of gate-all-around silicon nanowire transistors for ultimately scaled CMOS technology from top-down approach
期刊论文
frontiers of physics in china, 2010
Huang, Ru
;
Wang, Run-sheng
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/13
silicon nanowire transistor (SNWT)
gate-all-around (GAA)
CMOS
top-down
quasi-ballistic transport
self-heating effect
variability
LOW-FREQUENCY NOISE
DESIGN OPTIMIZATION
CARRIER TRANSPORT
METAL GATES
MOSFETS
RELIABILITY
VARIABILITY
EXTRACTION
DEVICES
Characteristics of gate current random telegraph signal noise in SiON/HfO2/TaN p-type metal-oxide-semiconductor field-effect transistors under negative bias temperature instability stress condition
期刊论文
Japanese Journal of Applied Physics, 2010
Zhang, Liangliang
;
Liu, Changze
;
Wang, Runsheng
;
Huang, Ru
;
Yu, Tao
;
Zhuge, Jing
;
Kirsch, Paul
;
Tseng, Hsing-Huang
;
Wang, Yangyuan
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提交时间:2017/12/03
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