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科研机构
微电子研究所 [6]
内容类型
期刊论文 [6]
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2012 [1]
2008 [1]
2007 [1]
2006 [1]
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内容类型:期刊论文
专题:微电子研究所
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高迁移率In0.6Ga0.4As 沟道MOSHEMT与MOSFET器件特性的研究
期刊论文
物理学报, 2012
作者:
卢力
;
常虎东
;
孙兵
;
刘洪刚
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2013/11/01
具有场板结构的AlGaN/GaN HEMT的直流特性
期刊论文
半导体学报, 2008, 卷号: 29, 期号: 3, 页码: 5,554-558
作者:
魏珂
;
刘新宇
;
和致经
;
吴德馨
收藏
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浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2010/05/27
Algan/gan
高迁移率晶体管
肖特基特性
击穿电压
场板结构
基于国产外延材料的SiC基AlGaN/GaN HEMT器件研制
期刊论文
电子器件, 2007, 卷号: 30, 期号: 3, 页码: 4,738_740
作者:
刘新宇
;
李诚瞻
;
陈晓娟
;
罗卫军
收藏
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2010/05/26
Sic
Algan/gan Hemt
自热效应
外延材料
MOCVD生长的SiC衬底高迁移率GaN沟道层AlGaN/AlN/GaN HEMT结构
期刊论文
半导体学报, 2006, 卷号: 27, 期号: 9, 页码: 1521-1525
作者:
李晋闽
;
王占国
;
王晓亮
;
胡国新
;
马志勇
收藏
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浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2010/05/26
Algan/gan
高电子迁移率管
Mocvd
功率器件
碳化硅衬底
输出功率密度为2.23W/mm的X波段AlGaN/GaN功率HEMT器件
期刊论文
半导体学报, 2005, 卷号: 26, 期号: 10, 页码: 6,1865-1870
作者:
李晋闽
;
王晓亮
;
刘新宇
;
胡国新
;
王军喜
收藏
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浏览/下载:6/0
  |  
提交时间:2010/05/26
Algan/gan
高电子迁移率晶体管
Mocvd
功率器件
TiN栅薄膜全耗尽SOI CMOS器件
期刊论文
半导体学报, 2005, 卷号: 26, 期号: 1, 页码: 5,6-10
作者:
连军
;
海潮和
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2010/05/26
Fdsoi
Cmos
中间禁带功函数
Tin
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